About us

Our mission is to create unique tools on the top technological level which are used by the scientific community and which drive new discoveries with significant impact.​

Who are we?

NenoVision is a technology company based in Brno, Czech Republic. We were the first spin-off from the Brno University of Technology and the Central European Institute of Technology (CEITEC).

What do we do?

NenoVision develops, manufactures, and sells a revolutionary type of atomic force microscope (AFM) LiteScope™ designed for fast and easy integration into scanning electron microscopes (SEMs).

Why correlative microscopy?

The need to analyze and characterize objects from micro to nanoscale is growing fast. SEM and AFM techniques are the most common with an extensive user pool. These are standards in micro-nano characterization and almost the only ones available. In-situ AFM-in-SEM measuring enables to combine advantages of both techniques and to simultaneously correlate the two-dimensional images from SEM with three-dimensional images from AFM.

Why in Brno?

Over 30 % of world electron microscopes are manufactured in Brno. The city has a long tradition in the development of scientific instruments and is also referred to be the world center of electron microscopy. We take this as an opportunity to move microscopy to the next level.

NenoVision continues with the established tradition and expertise within the field and brings innovative Correlative Probe and Electron Microscopy technology to the market.

Neno-team

Awards received

Seal of Excellence

Seal of Excellence

Seal of Excellence

Gold Medal MSV 2016

Gold Medal MSV 2016

Gold Medal MSV 2016

LABOREXPO 2017

LABOREXPO 2017

LABOREXPO 2017

Projects

"Metrologická charakterizace mikroskopu atomárních sil"
CZ.01.1.02/0.0/0.0/17_205/0015059

Je spolufinancován Evropskou unií

Cílem projektu je celková metrologická charakterizace mikroskopu atomárních sil LiteScopeTM, která povede k jeho podrobné specifikaci a jeho případným úpravám. Projekt je realizován ve spolupráci s Českým metrologickým institutem.   

Publicita_EU+MPO

"AFM topografie – LiteScope"
CZ.01.1.02/0.0/0.0/17_205/0015058

Je spolufinancován Evropskou unií

Projekt umožní další rozvoj mikroskopu atomárních sil (LiteScopeTM), a to v oblasti studia souvislostí mezi strukturou materiálů a jejich fyzikálními vlastnostmi. Data a informace získaná ve spolupráci s Ústavem fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. budou následně využívány v průběhu vývoje, výroby a následného prodeje produktu LiteScopeTM.

Publicita_EU+MPO

"LiteScope and 3D maps"
CZ.01.1.02/0.0/0.0/17_115/0012729  

deals with changes in LiteScopeTM settings and customization of SW equipment to increase LiteScopeTM utilization for imaging material inhomogeneities and surface discontinuities.

 

EN_RO_M_M

"The protection of industrial property rights - Nenovision s.r.o."

is co-funded by the European Union. International protection of new technical solution LiteScopeTM.

 

EN_RO_M_M

„Vývoj aplikací SPM vhodných pro korelativní mikroskopii“ TJ 1000434

Předmětem projektu je zapojení mladých vědeckých pracovníků VUT do vývoje aplikačních možností produktu LiteScope společnosti NenoVision. Příjemce CEITEC VUT Brno s pomocí NenoVision bude na vhodných vzorcích testovat pokročilé techniky měření SPM a jejich aplikace. Měření se zaměří na sledování elektr., magnet. a mech. vlastností vzorků a jejich interpretaci s použitím korelativní mikroskopie CPEM. Na základě výsledků měření bude zařízení inovováno tak, aby odpovídalo potřebám širokého spektra uživatelů.

Projekt TJ01000434 je spolufinancován se státní podporou Technologické agentury ČR v rámci Programu na podporu aplikovaného výzkumu ZÉTA.

tačr-logo

„Procesní monitorování a poruchová analýza pro energeticky účinná zařízení a mikroelektronické výrobky“ TH04010525

Projekt reaguje na současnou poptávku trhu na přístroje pro polovodičový průmysl na inspekci vadných elektronických součástek při výrobě na úrovni waferů. Cílem projektu je zavést nový typ přístroje založený na spojení unikátních technologiích na trh dříve než konkurence. Pro dosažení tohoto cíle vzniká spojení partnerů projektu.

Projekt TH04010525 je spolufinancován se státní podporou Technologické agentury ČR v rámci Programu na podporu aplikovaného výzkumu ZÉTA.

Tento projekt navazuje na projekt německé věděcko-výzkumné instituce Fraunhofer IKTES Dresden Cool_PROMO.

tačr-logo

„MARS – Market Ready Self-sensing probes for a wide range of applications in Scanning probe microscopy“  Project No 17-0907 MARS

The goal of this project is to apply and evaluate nano3DsenseTM technology concerning strongly diverse probing demands. A full exploitation of the self-sensing technology leads to novel and more flexible probes, that can fulfill unsatisfied demands of an emerging market. 

Project MARS No 17_0907 got granted by the EURIPIDES2 label.

euripides-logo-web

„MARS – Komerční využití nového typu samo-snímacích sond s širokým spektrem aplikací v mikroskopii atomárních sil
LTE 218002

Projekt MARS je zaměřený na vývoj nových samo-snímacích (self-sensing) sond s využitím v mikroskopu atomárních sil (AFM) LiteScope společnosti NenoVision a dalších zařízeních zaměřených na speciální aplikace AFM. Vývoj a komerční využití nového typu sond MARS by mělo přispět k přechodu z klasických AFM sond na nový typ se self-sensing technologií. Projekt výrazně přispěje k posílení produktu LiteScope na mezinárodním trhu. 

Projekt MARS LTE 218002 byl podpořen Ministerstvem školství, mládeže a tělovýchovy z programu INTER – EXCELLENCE, podprogramu INTER-EUREKA.

msmt-logo

„POMITE – Pokročilé mikroskopické techniky“
FV 40238

Cílem projektu POMITE je rozšíření aplikačního a komerčního využití produktu LiteScope. Jedná se o zařízení speciálně určené pro integraci do elektronových mikroskopů prohlubující moderní oblast korelativní mikroskopie, které společnost NenoVision vyvinula a uvedla na trh mikroskope atomárních sil. K naplnění stanoveného cíle POMITE byly na základě analýzy zákaznických požadavků a trhu vybrány tří oblasti inovace produktu:

a) zrychlení doby měření mikroskopu LitesScope pomocí tzv. „Fast imaging“ pomocí upgradu vybraných komponent,

b) rozšíření současného zařízení o techniky potřebné pro nanoindentaci a charakterizaci mechanických vlastností vzorků a

c) vývoj softwarových a jiných nástrojů podporujících interpretaci dat pro korelativní zobrazování a pokročilých mikroskopických technik.

Projekt „POMITE – pokročilé mikroskopické techniky“ byl realizován za finanční podpory z prostředků státního rozpočtu prostřednictvím Ministerstva průmyslu a obchodu České republiky v programu TRIO.

mpo-web

METODIKA MĚŘENÍ LOKÁLNÍCH ELEKTRICKÝCH VLASTNOSTÍ POMOCÍ LiteScope 

CZ.01.1.02/0.0/0.0/17_205/0019149

Projekt je spolufinancován Evropskou unií.

Projekt je zaměřen na rozšíření aplikačních možností zařízení LiteScope a tím zvýšení jeho konkurenceschopnosti na trhu. V rámci projektu vznikne ve spolupráci s Ústavem fyziky materiálů AV ČR v. v. i. metodika, která umožní lokalizaci elektricky aktivních defektů materiálů nebo vad integrovaných obvodů v polovodičovém průmyslu.

Publicita_EU+MPO

CHARAKTERIZACE FUNKČNÍCH NANOMATERIÁLŮ POMOCÍ KORELOVANÝCH TECHNIK ZAŘÍZENÍ LiteScope 

CZ.01.1.02/0.0/0.0/18_215/0019476

Projekt je spolufinancován Evropskou unií.

Projekt umožní rozšíření aplikací a vytvoření 2 nových měřících metodik pro inovativní zařízení LiteScope: AFM/SEM měření ultrahladkých keramických kompozitních materiálů a analýzu morfologie a topologie povrchů těchto materiálů a měření a detailní identifikaci vad pomocí vývoje metodiky AFM a SEM/EDX měřením tenkých vrstev připravených technologií PVD, CVD a PACVD. Vývoj metodiky bude probíhat ve spolupráci s Technickou univerzitou Ostrava – Vysokou školou báňskou.

Publicita_EU+MPO